产品详情
简单介绍：
分辨率1.0μ~超高分辨率检测
●焦深宽，可对缺点进行全貌成像，无因聚焦而变化
·丰富的光学系统(透射、反射、暗场等)和图像处理相结合，可以区分缺陷类型。
●采用高精度载物台，可通过激光显微镜的3D测量分析缺陷(可选)还活跃在显示器、电子材料、电池等先进材料的研发现场
详情介绍：
